L’analyse d’une défaillance ou d’un bris survenu lors d’un essai est d’une importance cruciale.  L’identification des causes exactes du mécanisme de défaillance permet l’application d’actions correctives efficaces, tant au niveau du design, que du procédé de fabrication d’un produit. Un partenariat développé avec le Centre de caractérisation microscopique des matériaux de l’école Polytechnique de Montréal nous permet un accès à de l’équipements d’analyse à la fine pointe de la technologie.  La manipulation de l’équipement directement par notre personnel permet : » Bonne compréhension des phénomènes recherchés » Identification de problèmes connexes à l’analyse principale » Flexibilité et coûts abordables Liste partielle de l’équipements d’analyse disponibles: » Microscope électronique en transmission (MET) » Faisceau Ionique Focalisé (FIB) » Microscope électronique à balayage (MEB) » Microscope électronique à balayage Auger » Diffractomètre à rayons X